展會(huì)信息
網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)|inTEST Thermal 熱測(cè)技術(shù)和應(yīng)用探討
來自美國 inTEST 的專家建議: 加入我們的會(huì)議, inTEST 將介紹前沿?zé)釡y(cè)技術(shù), 確保您的產(chǎn)品在極端溫度條件下可靠地運(yùn)行.無論您是熱測(cè)試新手還是希望提高您的知識(shí)水平, 本次會(huì)議都將提供有價(jià)值的見解 !
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日期: 2025年6月24日, 星期二
時(shí)間: 10:00 am - 11:00 pm
時(shí)長: 45 至 60分鐘
主持人: inTEST Thermal 市場(chǎng)營銷經(jīng)理 Ruchal Humbare
特邀嘉賓: inTEST Thermal 全球產(chǎn)品總監(jiān) Barry Johnson ( 電氣工程師和熱測(cè)試專家, 熱測(cè)行業(yè)擁有超過 35年的專業(yè)知識(shí), 在 PCB, 模塊和系統(tǒng)測(cè)試方面擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)) 和美洲總監(jiān) Cody Dorris.
參加 inTEST 會(huì)議您將獲益
- 不同的熱測(cè)試技術(shù): 了解各種方法和設(shè)備, 以確保您的產(chǎn)品能夠承受極端溫度;
- 熱測(cè)試中的挑戰(zhàn): 了解熱測(cè)試過程中面臨的常見障礙以及如何克服它們
- 成功熱測(cè)試的規(guī)則: 了解獲得準(zhǔn)確可靠結(jié)果的最佳實(shí)踐和指導(dǎo)方針;
- 成功熱測(cè)試的提示和技巧: 來自美國 inTEST 的專家建議, 獲得實(shí)用的建議, 以提高您的熱測(cè)試過程
- 應(yīng)用: 探索熱測(cè)試對(duì)產(chǎn)品可靠性和性能至關(guān)重要的廣泛行業(yè)和場(chǎng)景.
- 現(xiàn)場(chǎng)問答: Barry Johnson 和 Cody Dorris 在現(xiàn)場(chǎng)演示中親自回答您的問題.
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美國 inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準(zhǔn). 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. inTEST 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國 inTEST 中國總代理.
若您需要進(jìn)一步了解 inTEST 熱流儀詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)參考以下聯(lián)絡(luò)方式:
上海伯東: 葉小姐 臺(tái)灣伯東: 王小姐
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