應(yīng)用訊息
上海伯東推薦適用于掃描電子顯微鏡 SEM 真空產(chǎn)品
掃描電子顯微鏡 SEM 作為一種分析技術(shù), 在工業(yè)生產(chǎn)過程中, 適用于組件和產(chǎn)品的表面成分檢測(cè). 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè), 食品監(jiān)控, 醫(yī)療設(shè)備, 微電子以及一般性生產(chǎn)監(jiān)控. 上海伯東代理德國(guó) Pfeiffer 提供合適的真空產(chǎn)品組合, 針對(duì)不同的應(yīng)用提供 SEM 真空系統(tǒng)定制化解決方案!
上海伯東推薦掃描電子顯微鏡 SEM 真空系統(tǒng): 低振動(dòng), 高可靠性, 低能耗
電子束對(duì)樣品進(jìn)行光柵式掃描. 首先, 真空柱頂端的電子源產(chǎn)生電子. 當(dāng)電子的熱能克服源材料的逸出功時(shí), 電子被發(fā)射而出. 然后, 它們被加速并被帶正電的陽(yáng)極吸引. 整個(gè)電子柱需要處于真空條件下, 如同電子顯微鏡的所有組件一樣, 電子源被密封在一個(gè)特殊的腔室內(nèi),
通過這種方式保持真空并防止其受到污染, 振動(dòng)或噪音. 真空在保護(hù)電子源不受污染的同時(shí), 也使客戶獲得高分辨率圖像成為可能. 如果缺少真空, 則電子柱中可能出現(xiàn)其他原子和分子. 它們與電子的相互作用將導(dǎo)致電子束出現(xiàn)偏轉(zhuǎn)并降低圖像質(zhì)量, 此外, 高真空還可以提高真空柱中的探測(cè)器對(duì)電子的收集效率.
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